High field related thin oxide wearout and breakdown

Dumin, D.J., Mopuri, S.K., Vanchinathan, S., Scott, R.S., Subramoniam, R., Lewis, T.G.

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Volume:

Année:

1995

Langue:

english

Pages:

DOI:

10.1109/16.372082

Fichier:

PDF, 1.51 MB

english, 1995

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