Low-Frequency Noise Characterization of Strained Germanium...

IEEE Transactions on Electron Devices 2011 Vol. 58; Iss. 9

Low-Frequency Noise Characterization of Strained Germanium pMOSFETs

Simoen, E., Mitard, J., De Jaeger, B., Eneman, G., Dobbie, A., Myronov, M., Whall, T.E., Leadley, D.R., Meuris, M., Hoffmann, T., Claeys, C.
Avez-vous aimé ce livre?
Quelle est la qualité du fichier téléchargé?
Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité
Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?
Volume:
58
Année:
2011
Langue:
english
Pages:
8
DOI:
10.1109/ted.2011.2160679
Fichier:
PDF, 984 KB
english, 2011
La conversion en est effectuée
La conversion en a échoué