3D Active Edge Silicon Detector Tests With 120 GeV Muons
Da Via, C., Deile, M., Hasi, J., Kenney, C., Kok, A., Parker, S., Watts, S., Anelli, G., Avati, V., Bassetti, V., Boccone, V., Bozzo, M., Eggert, K., Ferro, F., Inyakin, A., Kaplon, J., Bahilo, J.L.,Volume:
56
Year:
2009
Language:
english
Pages:
14
DOI:
10.1109/tns.2009.2013951
File:
PDF, 2.17 MB
english, 2009