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Comparación del rango de medida de defectos entre la perimetría estándar blanco/blanco y la perimetría Pulsar
M. González de la Rosa, M. González-Hernández, J. García-Feijoo, M. Sánchez Méndez, J. García-SánchezVolume:
86
Year:
2011
DOI:
10.1016/j.oftal.2010.11.020
File:
PDF, 195 KB
2011