Elastic and inelastic contributions to the XPS...

Elastic and inelastic contributions to the XPS photoelectron diffraction patterns of Ni(100) and NiO(100)

P. Steiner, Th. Straub, Fr. Reinert, R. Zimmermann, S. Hüfner

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

291

Рік:

1993

Мова:

english

DOI:

10.1016/0039-6028(93)91487-a

Файл:

PDF, 1023 KB

english, 1993

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась