as seen via scanning nanofocused x-ray diffraction
Ricci, A., Poccia, N., Campi, G., Joseph, B., Arrighetti, G., Barba, L., Reynolds, M., Burghammer, M., Takeya, H., Mizuguchi, Y., Takano, Y., Colapietro, M., Saini, N. L., Bianconi, A.Volume:
84
Language:
english
Journal:
Physical Review B
DOI:
10.1103/PhysRevB.84.060511
Date:
August, 2011
File:
PDF, 421 KB
english, 2011