The Hysteresis Caused by Interface Trap and Anomalous...

Japanese Journal of Applied Physics 1997 / 12 Vol. 36; Iss. Part 2, No

The Hysteresis Caused by Interface Trap and Anomalous Positive Charge in Al/CeO2-SiO2/Silicon Capacitors

Roh, Yonghan, Kim, Kyunghae, Jung, Donggeun
Наскільки Вам сподобалась ця книга?
Яка якість завантаженого файлу?
Скачайте книгу, щоб оцінити її якість
Яка якість скачаних файлів?
Том:
36
Журнал:
Japanese Journal of Applied Physics
DOI:
10.1143/JJAP.36.L1681
Date:
December, 1997
Файл:
PDF, 681 KB
1997
Виконується конвертація в
Конвертація в не вдалась