![](/img/cover-not-exists.png)
Tunnel oxide degradation under pulsed stress
G. Ghidini, C. Capolupo, G. Giusto, A. Sebastiani, B. Stragliati, M. VitaliVolume:
45
Year:
2005
Pages:
6
DOI:
10.1016/j.microrel.2005.07.017
File:
PDF, 680 KB
2005