Radiation effects in nitride read-only memories
S. Libertino, D. Corso, G. Murè, A. Marino, F. Palumbo, F. Principato, G. Cannella, T. Schillaci, S. Giarusso, F. Celi, M. Lisiansky, Y. Roizin, S. LombardoVolume:
50
Year:
2010
Language:
english
Pages:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2010.07.068
File:
PDF, 189 KB
english, 2010