Calibration and characterization of piezoelectric elements...

Calibration and characterization of piezoelectric elements as used in scanning tunneling microscopy

van de Leemput, L. E. C., Rongen, P. H. H., Timmerman, B. H., van Kempen, H.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

1991

Мова:

english

Журнал:

Review of Scientific Instruments

DOI:

10.1063/1.1141989

Файл:

PDF, 653 KB

english, 1991

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась