Lebensdauermessungen an Resonanzzuständen im 28Si-Compoundkern mittels Schatten-Effekt
Dr. G. Otto, Dr. E. Zschau, Dr. A. Al-KhafajiVolume:
493
Year:
1981
Language:
german
Pages:
7
DOI:
10.1002/andp.19814930408
File:
PDF, 386 KB
german, 1981