Invited Commentary: When Bad Genes Look Good--APOE*E4, Cognitive Decline, and Diagnostic Thresholds
Glymour, M. M.Том:
165
Мова:
english
Журнал:
American Journal of Epidemiology
DOI:
10.1093/aje/kwm092
Date:
April, 2007
Файл:
PDF, 325 KB
english, 2007