Uniformity measurement of electron emission from carbon nanotubes using electron-beam resist
J. H. Lee, S. H. Lee, W. S. Kim, H. J. Lee, J. N. Heo, T. W. Jeong, C. H. Choi, J. M. Kim, J. H. Park, J. S. Ha, H. J. Lee, J. W. Moon, M. A. Yoo, J. W. Nam, S. H. Cho, T. I. Yoon, B. S. Kim, D. H. ChYear:
2005
Language:
english
DOI:
10.1116/1.1861036
File:
PDF, 833 KB
english, 2005