Spatial Distribution of Oxide Traps in Stressed Flash...

Japanese Journal of Applied Physics 2006 / 5 Vol. 45; Iss. No. 21

Spatial Distribution of Oxide Traps in Stressed Flash Memory

Shim, Byung Sup, Park, Young June, Min, Hong Shick
Наскільки Вам сподобалась ця книга?
Яка якість завантаженого файлу?
Скачайте книгу, щоб оцінити її якість
Яка якість скачаних файлів?
Том:
45
Мова:
english
Журнал:
Japanese Journal of Applied Physics
DOI:
10.1143/JJAP.45.L533
Date:
May, 2006
Файл:
PDF, 84 KB
english, 2006
Виконується конвертація в
Конвертація в не вдалась