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[IEEE 2016 IEEE Biennial Congress of Argentina (ARGENCON) - Buenos Aires, Argentina (2016.6.15-2016.6.17)] 2016 IEEE Biennial Congress of Argentina (ARGENCON) - Automatización de mediciones con analizador de espectro, detección automática de portadora y medición de THD
Alejandro, Henze, Guillermo, Monasterios, Diego, Vicente, Luciano, Tabasso, Gaston, Sivori, Elias, GraciaYear:
2016
DOI:
10.1109/ARGENCON.2016.7585259
File:
PDF, 753 KB
2016