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Spektrale Bandselektion für das Filterdesign optischer Inspektionssysteme
Michelsburg, Matthias, Gruna, Robin, Vieth, Kai-Uwe, Puente León, FernandoVolume:
78
Language:
german
Journal:
tm - Technisches Messen
DOI:
10.1524/teme.2011.0154
Date:
September, 2011
File:
PDF, 518 KB
german, 2011