[IEEE 2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics...

[IEEE 2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) - Burlingame, CA (2017.10.16-2017.10.19)] 2017 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) - Gate-induced vs. implanted body doping impact on Z 2 -FET DC operation

Navarro, C., Gamiz, F., Rodriguez, N., Donetti, L., Sampedro, C., Kim, Seong Il, Kim, Yong Tae, Cristoloveanu, S.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Рік:

2017

Мова:

english

DOI:

10.1109/s3s.2017.8308748

Файл:

PDF, 1.37 MB

english, 2017

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась