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Aplicación de Seis Sigma y los Métodos Taguchi para el Incremento de la Resistencia a la Prueba de Jalón de un Diodo Emisor de Luz
Báez, Yolanda A, Limón, Jorge, Tlapa, Diego A, Rodríguez, Manuel AVolume:
21
Year:
2010
Journal:
Información tecnológica
DOI:
10.4067/s0718-07642010000100011
File:
PDF, 259 KB
2010