Caractérisation électronique d'interfaces profondes Al-InP
Barret, C., Vergand, F., Maaref, H., Sénémaud, C., Bonnelle, C.Volume:
24
Year:
1989
Language:
french
Journal:
Revue de Physique Appliquée
DOI:
10.1051/rphysap:01989002404043900
File:
PDF, 1.33 MB
french, 1989