Etude de résines négatives sensibles aux électrons utilisées dans les procédés de microlithographie
Holil, B., Sagnes, R., Serre, B., Schué, F., Montginoul, C., Giral, L., Buiguez, F., Rosilio, C.Volume:
20
Year:
1985
Language:
french
Journal:
Revue de Physique Appliquée
DOI:
10.1051/rphysap:01985002003014300
File:
PDF, 1.03 MB
french, 1985