![](/img/cover-not-exists.png)
Spectroscopic ellipsometry characterization of polymer–fullerene blend films
A.M.C. Ng, K.Y. Cheung, M.K. Fung, A.B. Djurišić, W.K. ChanТом:
517
Рік:
2008
Мова:
english
Сторінки:
6
DOI:
10.1016/j.tsf.2008.05.038
Файл:
PDF, 566 KB
english, 2008