Volume 66; Issue 11

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tm - Technisches Messen
Volume 66; Issue 11

tm - Technisches Messen

Volume 66; Issue 11

1

LITERATUR. PRODUKTINFORMATIONEN

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 300 KB

german, 1999

2

VERANSTALTUNGSKALENDER

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

File:

PDF, 147 KB

1999

3

Hochauflösende Topometrie im Kontext globaler Makrostrukturen / High Resolution Topometry in Conjunction with Macro Structures

Duparre, A., Notni, G., Recknagel, R.-J., Feigl, Τ., Gliech, S.

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 1.14 MB

german, 1999

4

Präzise Strukturmeßtechnik mit lasergestützter Mikroellipsometrie / Precise Structure Measurement using Laser-Based Microellipsometry

Holzapfel, W., Neuschaefer-Rube, U., Doberitzsch, J., Wirth, F.

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 1.03 MB

german, 1999

5

Analyse dynamischer Vorgänge an technischen Oberflächen mit Speckle-Korrelation / Analysis of Surface Processes by Means of Speckle-Correlation

Fricke-Begemann, Thomas, Gülker, Gerd, Hinsch, Klaus D., Wolff, Karin

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 838 KB

german, 1999

6

Hochauflösende Vermessung ausgedehnter technischer Oberflächen mit skalierbarer Topometrie / Highly-Resolved Measurement of Extended Technical Surfaces with Scalable Topometry

Osten, Wolfgang, Andrä, Peter, Kayser, Daniel

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

File:

PDF, 1.90 MB

1999

7

Messung und Beschreibung von Mikrostrukturen unter Berücksichtigung materialspezifischer Eigenschaften / Measurement and Description of Microstructures with Consideration of Material-Specific Characteristics

Tiziani, H. J., Windecker, R., Wegner, Μ., Leonhardt, Κ., Steudle, D., Fleischer, Μ.

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 1.02 MB

german, 1999

8

Hochpräzise optische Profilometrie an Proben mit variierenden Materialien / High-Precision Optical Profilometry at Surfaces with Varying Materials

Jennewein, Holger, Ganz, Thomas, Gottschling, Harald, Tschudi, Theo

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 1000 KB

german, 1999

9

EDITORIAL: Analyse und Modellierung technischer Oberflächen mit kombinativer Lasermeßtechnik / Analysis and Modeling of Technical Surfaces with Combinative Laser Metrology

Osten, Wolfgang

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 209 KB

german, 1999

10

IMPRESSUM

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1999

Language:

german

File:

PDF, 141 KB

german, 1999

To build up a library is to create a life. It’s never just a random collection of books.

— Carlos María Domínguez

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