Volume 82; Issue 6

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tm - Technisches Messen
Volume 82; Issue 6

tm - Technisches Messen

Volume 82; Issue 6

1

Analyse von Kristallen mit ETV-ICP OES

Bertram, Rainer

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

2015

Language:

german

File:

PDF, 191 KB

german, 2015

2

Determination of the uncertainty of the measurements performed by coordinate measuring machines

Krawczyk, Marcin, Gąska, Adam, Sładek, Jerzy

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

2015

Language:

english

File:

PDF, 746 KB

english, 2015

3

Über die zeitlich aufgelöste Messung von Geschwindigkeiten mittels schneller Röntgentomographie

Hoppe, Dietrich

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

2015

Language:

english

File:

PDF, 286 KB

english, 2015

4

3D-Röntgentomographie-gestützte Verfolgung von Blasen in flüssigem Schaum

Hoppe, Dietrich

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

2015

Language:

german

File:

PDF, 700 KB

german, 2015

5

Metrology-based quality and process control in automated stem cell production

Schenk, Friedrich W., Kulik, Michael, Schmitt, Robert

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

2015

Language:

english

File:

PDF, 1.29 MB

english, 2015

6

Frontmatter

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

2015

Language:

german

File:

PDF, 132 KB

german, 2015

7

Interferometrische Rundlauffehlerbestimmung von Drehtischen fÃ¼r die optische Rundheitsmessung

Ullmann, Vinzenz, KÃ¼hnel, Michael, Manske, Eberhard

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

2015

File:

PDF, 1.35 MB

2015