Volume 65; Issue 3

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tm - Technisches Messen
Volume 65; Issue 3

tm - Technisches Messen

Volume 65; Issue 3

1

Zeitdiskrete Regelung stetiger Bewegungsverläufe durch Echtzeitverarbeitung von Interferometersignalen

Gerhardt, Joachim, Schlaak, Hans-Joachim, Lerche, Gerd, Martens, Hans-Jürgen von

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 3.54 MB

german, 1998

2

Diodenlaser-Refraktometer für die interferometrische Längenmeßtechnik

Abou-Zeid, Ahmed, Wiese, Peter

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 1.69 MB

german, 1998

3

Optische Kopplung zwischen Laserinterferometern

Jäger, Gerd, Manske, Eberhard, Wurzbacher, Holger

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 1.79 MB

german, 1998

4

AUS DEN VERBÄNDEN

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 709 KB

german, 1998

5

Doppelseitige Fizeau-Interferometer mit Phasenverschiebeauswertung für dimensioneile Messungen

Nicolaus, Arnold, Bönsch, Gerhard

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 2.33 MB

german, 1998

6

VERANSTALTUNGSKALENDER

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

File:

PDF, 284 KB

1998

7

Speckle-Interferometrie mit Diodenlasern zur Formprüfung

Pfeifer, Tilo, Wegner, Ronny, Mischo, Horst

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 2.69 MB

german, 1998

8

AUS DER INDUSTRIE. PRODUKTINFORMATIONEN

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 343 KB

german, 1998

9

IMPRESSUM

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 292 KB

german, 1998

10

Verformungs- und Dehnungsfeldermittlung am Schweißpunkt mit 3D-Speckle-Meßverfahren

Wang, Zhiguo, Ettemeyer, Andreas

Journal:

tm - Technisches Messen

Year:

1998

Language:

german

File:

PDF, 779 KB

german, 1998